高低溫試驗(yàn)箱是一款模擬高低溫濕熱環(huán)境對產(chǎn)品進(jìn)行環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)的設(shè)備，適用于工業(yè)產(chǎn)品高溫、低溫的可靠性試驗(yàn)。定期校準(zhǔn)高低溫試驗(yàn)箱的溫度偏差是保證性能指標(biāo)有效性的常用手段，那么，要怎樣校準(zhǔn)高低溫試驗(yàn)箱的溫度偏差呢?

　　1、在無負(fù)載條件下開展校準(zhǔn)：此方法的優(yōu)點(diǎn)是：高低溫試驗(yàn)箱的整個(gè)工作區(qū)域都得到了校準(zhǔn)、測試樣品變得更時(shí)不需要重新校準(zhǔn)、能夠?qū)Ω叩蜏卦囼?yàn)箱的適用性做出有效的評估。主要缺點(diǎn)是：不能評估測試樣品對試驗(yàn)箱所造成的影響。

　　2、在有負(fù)載條件下開展校準(zhǔn)：此方法的優(yōu)點(diǎn)是：能夠比較準(zhǔn)確地評估測試樣品對試驗(yàn)箱性能的影響、易于得到測試樣品關(guān)鍵部件或部位的環(huán)境試驗(yàn)的詳細(xì)信息。主要缺點(diǎn)是：當(dāng)更換測試樣品時(shí)，需要重新校準(zhǔn)。

　　3、在使用過程中的實(shí)時(shí)測量：此方法不僅具有1和2所述的方法具有的優(yōu)點(diǎn)，而且能夠得到測試樣品在環(huán)境試驗(yàn)過程中全面的環(huán)境參數(shù)，往往在對環(huán)境要求很高的產(chǎn)品試驗(yàn)時(shí)采用。主要缺點(diǎn)是：每次環(huán)境試驗(yàn)都需要使用測量設(shè)備，通常在試驗(yàn)箱校準(zhǔn)時(shí)采用無負(fù)載條件下的校準(zhǔn)方法。

　　高低溫試驗(yàn)箱是對電子電工、零部件、汽車摩托、光電光纖、通訊器件、半導(dǎo)體、照明電器、LED光電、復(fù)合材料、高分子材料、模具五金、LCD液晶顯示屏、航空航天、高等院校、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高、低溫交變循環(huán)變化的情況下，檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)，應(yīng)用廣泛。